Nazewnictwo

Język / system Nazwa
polski Czujniki optyczne lub sprzęt i ich części składowe (6A002)
pozycja wykazu 6A002

Czym jest

Pozycja 6A002 obejmuje systemy, urządzenia i elementy: następujące czujniki optyczne lub sprzęt i ich części składowe. Kontroli podlegają wyroby spełniające progi techniczne określone w załączniku I do rozporządzenia (UE) 2021/821 - poniżej tych progów wyrób nie jest objęty tą pozycją.

Zastosowania cywilne występują w metrologii, teledetekcji, obronności i badaniach naukowych; wykonania o parametrach powyżej progów wykazu, albo przystosowane do zastosowań wojskowych, są objęte kontrolą.

Zakres opisu. Hasło ma charakter rozpoznawczo-prawny. Opisuje cechy pozwalające ustalić status kontrolny obiektu oraz podstawę odpowiedzialności - nie zawiera instrukcji obejścia zabezpieczeń ani wskazówek zastosowania do celów zakazanych.

Pełny tekst pozycji wykazu

Poniżej odwzorowano pełne brzmienie pozycji 6A002 z załącznika I do rozporządzenia (UE) 2021/821 - wraz ze wszystkimi podpunktami, progami liczbowymi, uwagami i uwagami technicznymi. To ten tekst rozstrzyga, czy konkretny egzemplarz jest objęty kontrolą. Zachowano oryginalny układ konspektu (a., 1., a. ...).

6A002 Następujące czujniki optyczne lub sprzęt i ich części składowe:
N.B. ZOB. TAKŻE POZYCJA 6A102.
a. następujące detektory optyczne:
1. następujące detektory półprzewodnikowe „klasy kosmicznej”:
Uwaga: Do celów pozycji 6A002.a.1. detektory półprzewodnikowe obejmują „matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej”.
a. detektory półprzewodnikowe „klasy kosmicznej” spełniające wszystkie poniższe kryteria:
1. reakcja szczytowa w zakresie długości fal z przedziału powyżej 10 nm, ale nieprzekraczającej 300 nm; oraz
2. w zakresie fal o długości powyżej 400 nm reakcja słabsza niż 0,1 % reakcji szczytowej;
b. detektory półprzewodnikowe „klasy kosmicznej” spełniające wszystkie poniższe kryteria:
1. reakcja szczytowa w zakresie długości fal z przedziału powyżej 900 nm, ale nieprzekraczającej 1 200 nm; oraz
2. „stała czasowa” reakcji 95 ns lub poniżej;
c. detektory półprzewodnikowe „klasy kosmicznej” posiadające reakcję szczytową w zakresie długości fal powyżej 1 200 nm, ale nieprzekraczającej 30 000 nm;
d. „matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej” „klasy kosmicznej” mające więcej niż 2 048 elementów na zespół i reakcję szczytową w paśmie fal o długości powyżej 300 nm, ale nieprzekraczającej 900 nm;
2. następujące lampowe wzmacniacze obrazu i specjalnie do nich zaprojektowane elementy:
Uwaga: Pozycja 6A002.a.2. nie obejmuje kontrolą nieobrazowych lamp fotopowielaczowych wyposażonych w znajdujący się w próżni czujnik elektronowy ograniczony wyłącznie do jakiegokolwiek z poniższych:
a. pojedyncza anoda metalowa; lub
b. anody metalowe o odległości między środkami otworków większej niż 500 μm.
Uwaga techniczna:
‘Powielanie ładunków’ oznacza formę wzmacniania obrazów elektronicznych i zdefiniowane jest jako wytwarzanie nośników ładunków w wyniku procesu jonizacji strumieniem. Czujniki ‘powielania ładunków’ mogą mieć postać lampowego wzmacniacza obrazu, detektora półprzewodnikowego lub „matrycy detektorowej płaszczyzny ogniskowej”.
a. lampowe wzmacniacze obrazu spełniające wszystkie poniższe kryteria:
1. reakcja szczytowa w zakresie długości fal z przedziału powyżej 400 nm, ale nieprzekraczającej 1 050 nm;
2. wzmacnianie obrazów elektronicznych z wykorzystaniem którychkolwiek z poniższych:
a. elektrody mikrokanalikowej z otworkami w odstępach (odległość pomiędzy środkami otworków) 12 μm lub mniejszych; lub
b. czujniki elektronowe o rozmiarach pojedynczego niełączonego piksela 500 μm lub mniej specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane, by uzyskać ‘powielanie ładunków’ w sposób inny niż za pomocą elektrody mikrokanalikowej; oraz
3. mające dowolną z poniższych fotokatod:
a. fotokatody alkaliczne wielopierwiastkowe (np. S-20 i S-25) o czułości świetlnej przekraczającej 350 μΑ/lm;
b. fotokatody GaAs lub GaInAs; lub
c. inne fotokatody półprzewodnikowe oparte na „związkach III/V” o maksymalnej „czułości promieniowania” powyżej 10 mA/W;
b. lampowe wzmacniacze obrazu spełniające wszystkie poniższe kryteria:
1. reakcja szczytowa w zakresie długości fal z przedziału powyżej 1 050 nm, ale nieprzekraczającej 1 800 nm;
2. wzmacnianie obrazów elektronicznych z wykorzystaniem którychkolwiek z poniższych:
a. elektrody mikrokanalikowej z otworkami w odstępach (odległość pomiędzy środkami otworków) 12 μm lub mniejszych; lub
b. czujników elektronowych o rozmiarach pojedynczego niełączonego piksela 500 μm lub mniej specjalnie zaprojektowanych lub zmodyfikowanych, by uzyskać ‘powielanie ładunków’ w sposób inny niż za pomocą elektrody mikrokanalikowej; oraz
3. mające fotokatody półprzewodnikowe (np. GaAs lub GaInAs) oparte na „związkach III/V” oraz fotokatody o elektronach przeniesionych, o maksymalnej „czułości promieniowania” powyżej 15 mA/W;
c. następujące specjalnie opracowane elementy:
1. elektrody mikrokanalikowe do wzmacniania obrazów z otworkami w odstępach (odległość pomiędzy środkami otworków) nie większych niż 12 μm;
2. czujniki elektronowe o rozmiarach pojedynczego niełączonego piksela 500 μm lub mniej specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane, by uzyskać ‘powielanie ładunków’ w sposób inny niż za pomocą elektrody mikrokanalikowej;
3. fotokatody półprzewodnikowe (np. GaAs lub GaInAs) oparte na „związkach III/V” oraz fotokatody o elektronach przeniesionych;
Uwaga:Pozycja 6A002.a.2.c.3. nie obejmuje kontrolą fotokatod półprzewodnikowych związkowych zaprojektowanych tak, by osiągały maksymalnie którąkolwiek z poniższych „czułości promieniowania”:
a. 10 mA/W lub mniej przy reakcji szczytowej w zakresie długości fal z przedziału powyżej 400 nm, ale nie więcej niż 1 050 nm; lub
b. 15 mA/W lub mniej przy reakcji szczytowej w zakresie długości fal z przedziału powyżej 1 050 nm, ale nie więcej niż 1 800 nm;
3. następujące, inne niż „klasy kosmicznej” „matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej”:
N.B. ‘Mikrobolometryczne’„matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej”, inne niż „klasy kosmicznej” są wymienione jedynie w pozycji 6A002.a.3.f.
Uwaga techniczna:
„Matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej” to liniowe lub dwuwymiarowe wieloelementowe zespoły detektorów.
Uwaga 1: Pozycja 6A002.a.3. obejmuje kontrolą zespoły fotoprzewodzące i fotowoltaiczne.
Uwaga 2: Pozycja 6A002.a.3. nie obejmuje kontrolą:
a. wieloelementowych (nie więcej niż 16 elementów) komórek fotoelektrycznych w obudowie, zawierających siarczek lub selenek ołowiu;
b. detektorów piroelektrycznych, w których zastosowano którekolwiek z poniższych:
1. siarczan triglicyny i jego odmiany;
2. tytanian ołowiu-lantanu-cyrkonu i jego odmiany;
3. tantalan litu;
4. polifluorek winylidenu i jego odmiany; lub
5. niobian strontu-baru i jego odmiany;
c. „matryc detektorowych płaszczyzny ogniskowej” specjalnie zaprojektowanych lub zmodyfikowanych tak, by uzyskać ‘powielanie ładunków’, oraz ograniczonych projektowo tak, by ich maksymalna „czułość promieniowania” wynosiła 10 mA/W lub mniej przy długości fal powyżej 760 nm, spełniających wszystkie poniższe kryteria:
1. wyposażonych w mechanizm ograniczenia reakcji, zaprojektowany w sposób nieprzewidujący jego usuwania ani modyfikowania; oraz
2. spełniających którekolwiek z poniższych kryteriów:
a. mechanizm ograniczenia reakcji jest zintegrowany z elementem detekcyjnym lub połączony z nim; lub
b. „matryca detektorowa płaszczyzny ogniskowej” działa wyłącznie wtedy, gdy zainstalowany jest mechanizm ograniczenia reakcji.
Uwaga techniczna:
Mechanizm ograniczenia reakcji, w jaki wyposażony jest element detekcyjny, jest zaprojektowany tak, by w przypadku jego usunięcia lub modyfikacji detektor przestawał działać.
d. stosów termoelektrycznych posiadających mniej niż 5 130 elementów.
Uwaga techniczna:
‘Powielanie ładunków’ oznacza formę wzmacniania obrazów elektronicznych i zdefiniowane jest jako wytwarzanie nośników ładunków w wyniku procesu jonizacji strumieniem. Czujniki ‘powielania ładunków’ mogą mieć postać lampowego wzmacniacza obrazu, detektora półprzewodnikowego lub „matrycy detektorowej płaszczyzny ogniskowej”.
a. inne niż „klasy kosmicznej” „matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej” spełniające wszystkie poniższe kryteria:
1. pojedyncze elementy o reakcji szczytowej w zakresie długości fal z przedziału powyżej 900 nm, ale nieprzekraczającej 1 050 nm; oraz
2. spełniających którekolwiek z poniższych kryteriów:
a. „stała czasowa” reakcji poniżej 0,5 ns; lub
b. specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane, by uzyskać ‘powielanie ładunków’, i mające maksymalną „czułość promieniowania” powyżej 10 mA/W;
b. inne niż „klasy kosmicznej” „matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej” spełniające wszystkie poniższe kryteria:
1. pojedyncze elementy o reakcji szczytowej w zakresie długości fal z przedziału powyżej 1 050 nm, ale nieprzekraczającej 1 200 nm; oraz
2. spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów:
a. „stała czasowa” reakcji 95 ns lub poniżej; lub
b. specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane, by uzyskać ‘powielanie ładunków’, i mające maksymalną „czułość promieniowania” powyżej 10 mA/W;
c. inne niż „klasy kosmicznej” nieliniowe (dwuwymiarowe) „matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej” posiadające reakcję szczytową poszczególnych elementów w zakresie długości fal z przedziału powyżej 1 200 nm, ale nieprzekraczającej 30 000 nm;
N.B. Mikrobolometryczne’„matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej”, inne niż „klasy kosmicznej”, wykonane na bazie krzemu lub innych materiałów są wymienione jedynie w pozycji 6A002.a.3.f.
d. inne niż „klasy kosmicznej” liniowe (jednowymiarowe) „matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej” spełniające wszystkie poniższe kryteria:
1. pojedyncze elementy o reakcji szczytowej w zakresie długości fal z przedziału powyżej 1 200 nm, ale nieprzekraczającej 3 000 nm; oraz
2. spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów:
a. stosunek wymiaru ‘kierunku przeszukiwania’ elementu detekcyjnego do wymiaru ‘poprzecznego kierunku przeszukiwania’ elementu detekcyjnego poniżej 3,8; lub
b. przetwarzanie sygnałów w elementach detekcyjnych;
Uwaga: Pozycja 6A002.a.3.d. nie obejmuje kontrolą „matryc detektorowych płaszczyzny ogniskowej” (nieprzekraczających 32 elementów), w których elementy detekcyjne są wykonane wyłącznie z germanu.
Uwaga techniczna:
Do celów pozycji 6A002.a.3.d. ‘poprzeczny kierunek przeszukiwania’ jest określany jako oś równoległa do liniowego układu elementów detekcyjnych, a ‘kierunek przeszukiwania’ jest określany jako oś prostopadła do liniowego układu elementów detekcyjnych.
e. inne niż „klasy kosmicznej” liniowe (jednowymiarowe) „matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej” posiadające reakcję szczytową poszczególnych elementów w zakresie długości fal z przedziału powyżej 3 000 nm, ale nieprzekraczającej 30 000 nm;
f. inne niż „klasy kosmicznej” nieliniowe (dwuwymiarowe) „matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej” w zakresie promieniowania podczerwonego oparte na materiale ‘mikrobolometrycznym’ posiadające niefiltrowaną reakcję poszczególnych elementów w zakresie długości fal z przedziału powyżej 8 000 nm, ale nieprzekraczającej 14 000 nm;
Uwaga techniczna:
Do celów 6A002.a.3.f ‘mikrobolometr’ jest określany jako obrazowy detektor termalny, który w wyniku zmiany temperatury w detektorze spowodowanej przez absorpcję promieniowania podczerwonego generuje nadające się do wykorzystania sygnały.
g. inne niż „klasy kosmicznej” „matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej” spełniające wszystkie poniższe kryteria:
1. oddzielne elementy detekcyjne o reakcji szczytowej w zakresie długości fal z przedziału powyżej 400 nm, ale nieprzekraczającej 900 nm;
2. specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane, by uzyskać ‘powielanie ładunków’ i mające maksymalną „czułość promieniowania” powyżej 10 mA/W przy długości fal powyżej 760 nm; oraz
3. mające powyżej 32 elementów;
b. „monospektralne czujniki obrazowe” i „wielospektralne czujniki obrazowe” przeznaczone do zdalnego wykrywania obiektów i spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów:
1. chwilowe pole widzenia (IFOV) poniżej 200 μrad (mikroradianów); lub
2. przeznaczenie do działania w zakresie fal o długości powyżej 400 nm, ale nieprzekraczającej 30 000 nm oraz mające wszystkie następujące własności:
a. dostarczanie wyjściowych danych obrazowych w postaci cyfrowej; oraz
b. spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów:
1. są „klasy kosmicznej”; lub
2. przeznaczenie do zastosowań lotniczych i zaopatrzenie w czujniki inne niż krzemowe oraz posiadające IFOV poniżej 2,5 miliradianów;
Uwaga: Pozycja 6A002.b.1. nie obejmuje kontrolą „monospektralnych czujników obrazowych” o reakcji szczytowej w paśmie fal o długości powyżej 300 nm, ale nieprzekraczającej 900 nm i obejmujących wyłącznie którykolwiek z poniższych detektorów innych niż „klasy kosmicznej” lub „matryc detektorowych płaszczyzny ogniskowej” innych niż „klasy kosmicznej”:
1. matryce CCD, niezaprojektowane ani niezmodyfikowane do osiągnięcia ‘powielania ładunków’; lub
2. matryce CMOS, niezaprojektowane ani niezmodyfikowane do osiągnięcia ‘powielania ładunków’.
c. urządzenia do ‘bezpośredniego widzenia’ wyposażone w którekolwiek z poniższych:
1. lampowe wzmacniacze obrazu wyszczególnione w pozycji 6A002.a.2.a. lub 6A002.a.2.b.;
2. „matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej” wyszczególnione w pozycji 6A002.a.3.; lub
3. detektory półprzewodnikowe wyszczególnione w pozycji 6A002.a.1.;
Uwaga techniczna:
Termin ‘bezpośrednie widzenie’ odnosi się do urządzeń tworzących obrazy przedstawiające widzialny dla człowieka obraz bez jego przetwarzania na sygnał elektroniczny przekazywany na ekran telewizyjny, niemogących zarejestrować ani utrwalić obrazu na drodze fotograficznej, elektronicznej ani żadnej innej.
Uwaga: Pozycja 6A002.c. nie obejmuje kontrolą poniższych urządzeń, jeżeli są wyposażone w fotokatody inne niż z GaAs lub GaInAs:
a. przemysłowych lub cywilnych systemów alarmowych, systemów kontroli ruchu drogowego lub przemysłowego ani systemów zliczających;
b. urządzeń medycznych;
c. urządzeń przemysłowych stosowanych do kontroli, sortowania lub analizy właściwości materiałów;
d. wykrywaczy płomieni do pieców przemysłowych;
e. urządzeń specjalnie zaprojektowanych do celów laboratoryjnych.
d. następujące specjalne elementy pomocnicze do czujników optycznych:
1. chłodnice kriogeniczne „klasy kosmicznej”;
2. następujące chłodnice kriogeniczne inne niż „klasy kosmicznej”, posiadające źródło chłodzenia o temperaturze poniżej 218 K (–55°C):
a. pracujące w obiegu zamkniętym i charakteryzujące się średnim czasem do awarii (MTTF) lub średnim czasem międzyawaryjnym (MTBF) powyżej 2 500 godzin;
b. samoregulujące się minichłodnice Joula-Thomsona (JT) z otworkami o średnicy (na zewnątrz) poniżej 8 mm;
3. czujnikowe włókna optyczne o specjalnym składzie lub konstrukcji lub zmodyfikowane techniką powlekania, w celu nadania im właściwości umożliwiających reagowanie na fale akustyczne, promieniowanie termiczne, siły bezwładności, promieniowanie elektromagnetyczne lub jądrowe;
Uwaga: Pozycja 6A002.d.3. nie obejmuje kontrolą czujnikowych włókien optycznych w obudowie specjalnie zaprojektowanych do stosowania jako czujniki w odwiertach.
e. nieużywane.
f. ‘układy odczytujące’ (‘ROIC’) specjalnie zaprojektowane do „matryc detektorowych płaszczyzny ogniskowej” określonych w pozycji 6A002.a.3.
Uwaga: Pozycja 6A002.f. nie obejmuje kontrolą ‘układów odczytujących’ specjalnie zaprojektowanych do zastosowań cywilnych w motoryzacji.
Uwaga techniczna:
‘Układ odczytujący’ (‘ROIC’) oznacza układ scalony zaprojektowany jako podstawa lub element połączony „matrycy detektorowej płaszczyzny ogniskowej” („FPA”) i stosowany do odczytu (tj. odczytywania i rejestrowania) sygnałów wytwarzanych przez elementy detekcyjne. ‘ROIC’ co najmniej odczytuje ładunek z elementów detekcyjnych, ekstrahując ładunek i stosując funkcję multipleksową w sposób, który zachowuje informacje dotyczące względnej pozycji w przestrzeni i orientacji elementów detekcyjnych do przetwarzania w ramach ‘ROIC’ lub poza nim.

Reżim kontrolny wiodący dla tej pozycji: Porozumienie z Wassenaar.

Miejsce w grupie i pozycje pokrewne

Podstawa prawna kontroli

Wykaz / akt Pozycja Uwagi
Rozporządzenie (UE) 2021/821, załącznik I 6A002 kategoria 6 wykazu podwójnego zastosowania
Porozumienie z Wassenaar wykaz towarów i technologii podwójnego zastosowania reżim kontroli wywozu
Prawo polskie - obrót z zagranicą ustawa z dnia 29 listopada 2000 r. o obrocie z zagranicą towarami, technologiami i usługami o znaczeniu strategicznym zezwolenie na wywóz, transfer, pośrednictwo i tranzyt; nadzór

Rozpoznanie w warunkach terenowych

Sygnały - precyzyjne urządzenia, podzespoły lub materiały z dokumentacją techniczną; wykonanie o parametrach przekraczających potrzeby deklarowanej działalności; oznaczenia producenta i numery katalogowe pozwalające ustalić klasę wyrobu.

Wskaźniki - parametry powyżej progów wykazu; powiązanie z programem objętym kontrolą (reżim kontroli wywozu); odbiorca bez uzasadnienia cywilnego.

Zasady bezpieczeństwa - zabezpieczenie sprzętu, nośników i dokumentacji technicznej; ustalenie deklarowanego i rzeczywistego przeznaczenia oraz odbiorcy końcowego; ocena parametrów przez biegłego.

Ocena wyrobu: objęty a nieobjęty kontrolą

Objęte kontrolą są wyroby spełniające kryteria pozycji 6A002; wykonania o parametrach poniżej progów nie podlegają tej pozycji, chyba że wchodzą w skład zestawu objętego kontrolą albo służą realizacji zamiaru objętego odrębną penalizacją.

Znaczenie prawne. Wywóz, transfer wewnątrzunijny, pośrednictwo lub tranzyt bez wymaganego zezwolenia realizuje znamiona czynu z art. 33 ustawy o obrocie z zagranicą towarami o znaczeniu strategicznym. Obiekt o parametrach poniżej progów kontrolnych nie podlega temu reżimowi, chyba że stanowi element zestawu objętego kontrolą.

Odpowiedzialność karna

Podstawa Czyn Zagrożenie
art. 33 ustawy o obrocie z zagranicą towarami o znaczeniu strategicznym wywóz, wewnątrzunijny transfer, pośrednictwo lub tranzyt bez wymaganego zezwolenia od roku do lat 10
art. 13 § 2 k.k. usiłowanie nieudolne (wyrób poniżej progów albo zamiar nieziszczalny) jak za usiłowanie

Hasła powiązane

Przypisy

  1. Rozporządzenie (UE) 2021/821, załącznik I, pozycja 6A002.
  2. Porozumienie z Wassenaar - wykaz towarów i technologii podwójnego zastosowania.
  3. Ustawa z dnia 29 listopada 2000 r. o obrocie z zagranicą towarami, technologiami i usługami o znaczeniu strategicznym dla bezpieczeństwa państwa.
  4. Ustawa z dnia 6 czerwca 1997 r. - Kodeks karny, art. 13 § 2, art. 33.